SmartLab GuidanceTMソフトウェアで、各アプリケーションに最適な光学系ユニットの選択から、測定条件の設定・実行までの測定シーケンスを自動的に設定可能。試料水平保持方式であるため、粉末試料の脱落がなく、薄膜試料に歪み等を与えることなく取り付けることができる。高速1次元X線検出器を搭載しているので、高係数率・高エネルギー・低ノイズのデータが取得できる。粉末測定、薄膜測定、微小部測定に対応している。
Ｘ線解析ソフト（PDXL）及びICDD (International Center for Diffraction Data) データベース付属。