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[2018/10/25]第126回分析基礎セミナー「入門機器分析【10】Maximize Performance of ZEISS Microscope with Latest imaging Technic」を開催します。
[2018/11/08]第127回分析基礎セミナー「入門機器分析【11】トライボロジー研究における測定・計測ソリューション」を開催します。

◆2018年度後期のセミナースケジュールはこちら

お知らせ
◆年度が変わる度に、X線装置を利用する方は「実験計画書」の提出が必要です。
◆利用申込書や時間外在室届等の各種様式はこちらからダウンロードしてください。
機器予約の際は、予約概要に「所属・内線・氏名」を忘れずにご記入ください。
SEM(走査電子顕微鏡)のリストを更新しました。[機器関連①]
XPS(X線光電子分光装置)をリニューアルしました。[機器関連②]
ICPMS(誘導結合プラズマ質量分析装置)の利用は許可制にします。[機器関連③]

icon-arrow-circle-right システムの利用について(PDF)
九州・山口地区 機器・分析センターネットワーク