共同利用機器

中央分析センターで共同利用できる機器は、センター管理の所管装置と各部局が管理し、所定の手続きにより
センターの共同利用機器として登録された部局管理装置があります。

中央分析センター(伊都地区)

伊都分室の担当者(内線) : 渡辺助教 (2857)

機器名 設置場所 担当者(内線) 備考
走査型電子顕微鏡(SS-550) W3・207室 初心者用
電子線3次元粗さ解析装置(ERA-8900) W3・207室 粗さ情報取得可
低真空高感度走査電子顕微鏡(SU3500) W3・102室 汎用タングステンSEM
大気圧走査電子顕微鏡(AeroSurf1500) W3・102室 大気圧下で観察可能
超高分解能電界放出型走査電子顕微鏡(SU8000) W3・106室 低加速高分解能
低真空分析走査電子顕微鏡(SU6600) W3・103室 大上助教(EBSD) EBCD/EDX/WDX/CL
電界放出形走査電子顕微鏡(JSM-6701F) W3・105室 汎用FE-SEM
粉末X線回折装置(MultiFlex) W3・202室 X線登録必要
全自動水平型多目的X線回折装置(SmartLab) W3・202室 ガラスバッジ必要 X線登録必要
エネルギー分散型蛍光X線分析装置(EDX7000) W3・203室 X線登録必要
X線分析顕微鏡(XGT5000) W3・203室 X線登録必要
高分解能3次元X線CTシステム(SKYSCAN1172) W3・201室 X線登録必要
フーリエ変換赤外分光光度計(FT/IR-620) W3・205室
マルチチャンネル赤外顕微鏡(IRT7200) W3・205室
顕微レーザーラマン分光装置(ARAMIS) W3・206室
自動薄膜計測装置(Auto SE) W3・206室
誘導結合プラズマ質量分析装置(Agilent7500c) W3・106室 事前にサンプル情報提出
誘導結合プラズマ質量分析装置(Agilent7700x) W3・106室 事前にサンプル情報提出
示差熱熱重量同時測定装置(TG/DTA7300) W3・201室 Pt容器は各自で
高感度示差走査熱分析装置(X-DSC7000) W3・201室
高温型示差走査熱分析装置(DSC6300) W3・201室 Pt容器は各自で
走査型プローブ顕微鏡(DimensionIcon) W3・201室 プローブは各自で用意
3D測定レーザー顕微鏡(OLS4500) W3・201室 SPM機能付属
フラットミリング装置(IM-3000) W3・103室 大上助教・2948
イオンミリング装置(E-3500) W3・103室 大上助教・2948
イオンコーティング装置(JFC-1600) W3・105,207室 ターゲットはPt
イオンスパッタ(MC1000) W3・102室 ターゲットはPt
カーボンコータ(SC-701C) W3・207室
Osコータ(HPC-1SW) W3・102室
超伝導核磁気共鳴吸収装置(JNM-ECZ400) W3・110室
超伝導核磁気共鳴吸収装置(JNM-ECX500) W3・110室 石田助教・2867

中央分析センター(筑紫地区)

機器名 設置場所 担当者(内線) 備考
ICP発光分析装置SPS1700HVR 中分307室 稲田准教授・93-7149
電界放射走査型電子顕微鏡
JSM-6340F
中分201室 稲田准教授・93-7149 ビデオプリンター用紙、ポラロイドカメラフィルム持参。
超高感度示差走査熱量計DSC6100 中分306室 三浦助教・93-7214 生体高分子、生体膜、蛋白質、遺伝子、細胞、食品等
高感度示差走査熱量計DSC6220 中分307室 三浦助教・93-7214 普通の物質
オージェ電子分光分析装置JAMP-7800F 中分104室 三浦助教・93-7214 教官が付き添って操作。
X線光電子分光分析装置AXIS-165 中分103室 三浦助教・93-7214 教官が付き添って操作。
四軸型自動X線回折計CAD-4 中分205室 三浦助教・93-7214 結晶性の質重要
光交流法比熱測定装置ACC-1 中分204室 三浦助教・93-7214 厚さ100μm、4×4mmの薄膜。比熱の精密測定。
潜熱は不可。
超伝導核磁気共鳴装置Varian INOVA 中分102室 三浦助教・93-7214 2次元、長時間測定、低温-50℃まで可能。
粒径測定システムELSZ-0S 中分306室 三浦助教・93-7214 動的光散乱法(光子相関)。
粒径測定範囲0. 6nm~7μm。
165度後方散乱。温度可変0~80℃。
顕微赤外分光分析装置MFT-2000 中分306室 三浦助教・93-7214 温度可変加熱冷却装置-180~+600度
赤外分光光度計FT/IR-4200 and IRT-5000 中分306室 三浦助教・93-7214 2012年12月新規導入。
簡易試料成形器も準備している。
走査型プローブ顕微鏡5500SPM 中分201室 三浦助教・93-7214 カンチレバーは利用者で用意。
高周波数2極スパッタ装置SPF-210HRF 中分107室 三浦助教・93-7214 屋上クーリングタワーの掃除時々必要。
ターゲットは利用者で用意。
ラバープレス W-R/P 中分107室 三浦助教・93-7214 1回につき
エネルギー分散型蛍光X線分析装置(EDX800) 中分207室 三浦助教・93-7214 X線登録必要
レーザーラマン分光光度計
NRS-2000
中分307室 三浦助教・93-7214

工学研究院部局管理装置

機器名 設置場所 担当者(内線) 備考
超伝導核磁気共鳴吸収装置(AV300M) W3・109室 小野助教・2830
超伝導核磁気共鳴吸収装置(AVANCE500) W3・109室 小野助教・2830
単結晶高速X線構造解析装置(SMART APEX CCD システム) W3・204室 小野助教・2830
高性能X線光電子分光解析装置(ESCA5800) W3・112室 山田准教授・2832
レーザーラマン分光光度計(NRS-3100KK) W3・114室 森川助教・2834
超高分解能走査型電子顕微鏡(S-5200) W3・104室 長谷川助教・2862
レーザーラマン分光光度計(NRS-2000) W3・114室 白木助教・2841
紫外・可視・近赤外分光光度計(SolodSpec-3700DUV) W3・115室 白木助教・2841
動的二次イオン質量分析装置(SIMS4000) W3・212室 田中教授・2878
原子吸光分光光度計(AA-7000) W3・512室 久保田助教・2808
磁化率測定装置(MPMS-XL7TZ) CE61・102室 稲垣助教・3522
差動型高温示差熱天秤(TG-DTA2020SA) W2・1001室 小宮助教・3431
電界放出型走査電子顕微鏡(S-4300SE) EN-41・105室 森川助教・2952
近赤外蛍光分光装置(NanoLOG-EXT) W3・612室 藤ヶ谷准教授・2842
全自動水平型多目的X線回折装置(SmartLab) W3・115室 藤ヶ谷准教授・2842

農学研究院部局管理装置

 農学研究院研究教育支援センター(機器詳細はこちらへ)

機器名 設置場所 担当者(内線)
高速液体クロマトグラフ質量分析計(LCMS-IT-TOF)  農4号館・108室 赤坂技術職員(99-2899)
レーザーイオン化飛行時間質量分析装置(AXIMA-CFR plus)  農4号館・108室 松永技術専門職員(99-2851)
セルアナライザー(Sony EC800)  農7号館・209室 鵜木技術専門職員(99-2896)
セルソーター(Sony SH800)  農7号館・209室 鵜木技術専門職員(99-2896)
共焦点・超解像顕微鏡(TCS SP8 STED)  農5号館・201-3室 奥川技術職員(99-2861)
次世代シーケンサー(MiSeq)  農7号館・209室 河村技術職員(99-2822)

【注釈】
 ・・・箱崎地区に設置されている装置。

総理工機器共同利用機構

機器名 設置場所 担当者(内線) 備考
X線回折計Rigaku RINT2200 総理工C棟107室 永長教授93-7525 粉末・薄膜両試料測定可能
蛍光X線分析装置
Rigaku ZSX-miniX
総理工C棟107室 永長教授93-7525 固体・液体両試料測定可能
レーザーラマン分光装置 Nanofinder 30 総理工C棟203室 吾郷教授93-8852

物質機能評価センター

機器名 設置場所 担当者(内線) 備考
核磁気共鳴装置(*)
JEOL JNM-ECA600
NMR解析棟 出田技術専門職員93-8898 2次元、多核可能。依頼分析のみ。
※詳細についてはご相談ください。
固体高分解能核磁気共鳴装置
JEOL JNM-ECA400
NMR解析棟 出田技術専門職員93-8898 固体専用、多核可能。依頼分析のみ。
基本料金は3時間以内のCP/MAS測定。
※詳細についてはご相談ください。
核磁気共鳴装置
JEOL JNM-LA400
NMR解析棟 出田技術専門職員93-8898 1H,13Cの1次元。
依頼分析のみ。
電子共鳴装置(*)
JEOL JES-FA200
先導研南棟
401号室
出田技術専門職員93-8898
二重収束質量分析計JMS-700 先導研南棟
215号室
西技術補佐員
93-8898
依頼分析のみ。
コールドスプレーイオン化飛行時型質量分析装置JMS-T100CS 先導研南棟
401号室
田中技術職員
93-8898
立会い測定のみ。
超高輝度CCD単結晶
X線構造解析装置Varimax(Mo)
先導研南棟
421号室
松本技術職員
93-8898
依頼分析のみ。
※詳細についてはご相談ください。
X線単結晶構造解析装置
R-AXIS RAPID(Cu)
先導研南棟
421号室
松本技術職員
93-8898
依頼分析のみ。
※詳細についてはご相談ください。
マトリックス支援レーザー脱離
イオン化飛行時間型質量分析計
JMS-S3000
先導研南棟
215号室
権藤技術職員
93-8898
依頼分析のみ。
超強力単結晶構造解析システム (FR-E+) 先導研南棟
421号室
松本技術職員
93-8898
依頼分析のみ。
高輝度広角X線回折システム
薄膜解析部(RINT-TTRⅢ)
先導研南棟
205号室
松本技術職員
93-8898
依頼分析のみ。
高輝度広角X線回折システム
熱量同時評価部 (SmartLab)
先導研南棟
205号室
松本技術職員
93-8898
依頼分析のみ。
高分解能小角散乱装置(NANOSTAR) 先導研南棟
205号室
松本技術職員
93-8898
依頼分析のみ。
超伝導核磁気共鳴装置
(JNM-ECZ400)
先導研南棟
107号室
出田技術職員
93-8898
依頼分析のみ。
デジタルマイクロスコープ
(VHX-900F)
先導研南棟
109号室
田中技術職員
93-8898
依頼分析のみ。
分析走査電子顕微鏡
(JSM-6060LA/VI)
先導研南棟
109号室
田中技術職員
93-8898
依頼分析のみ。
電界放出形透過電子顕微鏡
(JEM-2100F)
先導研南棟
107号室
田中技術職員
93-8898
依頼分析のみ。
超高感度測定用NMR装置(AVANCEⅢ600) 伊都CE41
107号室
矢沢技術職員
90-6214
高分解能二重収束質量分析装置(JMS-700) 伊都CE41
110号室
岡崎技術職員
90-6219
依頼分析のみ。
飛行時間型質量分析計
(JSM-T100CS)
伊都CE41
110号室
五島助教
90-6225
マトリックス支援レーザー脱離
イオン化飛行時間型質量分析装置
(Bruker Autoflex Ⅱ)
伊都CE41
110号室
五島助教
90-6225

応用力学研究所

機器名 設置場所 担当者(内線) 備考
電子線マイクロアナライザー 応力研材料実験棟EPMA室 松原技術専門職員
93-7760
教官が操作。依頼分析のみ。
重イオン照射システム 応力研研究棟
118・119室
渡辺准教授
93-7717
依頼分析のみ。

先端素粒子物理研究センター

機器名 設置場所 担当者(内線) 備考
シリコン検出器製造装置 W1E棟801室 東城准教授
90-4053

比較社会文化研究院

機器名 設置場所 担当者(内線) 備考
X線回折装置 比文・言文棟
 702室
桑原准教授
90-5654