共同利用機器

中央分析センターで共同利用できる機器は、センター管理の所管装置と各部局が管理し、所定の手続きにより
センターの共同利用機器として登録された部局管理装置があります。

【所管装置】
　 中央分析センター(伊都地区)
　 中央分析センター(筑紫地区)
【部局管理装置】
　 中央分析センター部局管理装置(筑紫地区)
　 工学研究院部局管理装置
　 人間環境学研究院部局管理装置
　 農学研究院部局管理装置
　 総理工機器共同利用機構
　 グローバルイノベーションセンター
　 先導物質化学研究所
　 応用力学研究所
　 先端素粒子物理研究センター
　 比較社会文化研究院
　 生体防御医学研究所

中央分析センター(伊都地区)

伊都分室の担当者(内線)　：　渡辺助教 (2857)

機器名 設置場所 担当者(内線) 備考
超高分解能電界放出型走査電子顕微鏡(SU8000) W3・105室 極低加速観察・EDX付属・鉄系試料導入不可
低真空分析走査電子顕微鏡(SU6600) W3・103室 大上助教(EBSD) EBSD/EDX/WDX/CL付属
低真空高感度走査電子顕微鏡(SU3500) W3・102室 汎用ﾀﾝｸﾞｽﾃﾝSEM・EDX付属
走査電子顕微鏡(JSM-IT700HR) W3・101室 低真空、EDS付属
大気圧走査電子顕微鏡(AeroSurf1500) W3・102室 大気圧下で観察可能
全自動水平型多目的X線回折装置(SmartLab) W3・202室 X線登録及びガラスバッジ必要
デスクトップＸ線回折装置(MiniFlex600-C) W3・202室 X線登録必要
エネルギー分散型蛍光X線分析装置(EDX7000) W3・203室 X線登録必要
X線分析顕微鏡(XGT5000) W3・203室 X線登録必要
微小部X線分析装置(XGT-9000) W3・203室 X線登録必要
高分解能３次元X線CTシステム(SKYSCAN1172) W3・104室 X線登録必要
高分解能卓上型マイクロCTシステム(SKYSCAN1272) W3・104室 X線登録必要
フーリエ変換赤外分光光度計(FT/IR-620) W3・205室
フーリエ変換赤外分光光度計(FT/IR-4700) W3・206室
マルチチャンネル赤外顕微鏡（IRT7200) W3・205室
顕微レーザーラマン分光装置(ARAMIS) W3・207室
顕微レーザーラマン分光測定装置(LabRAM HR Evolution) W3・207室
自動薄膜計測装置(Auto SE) W3・207室
超伝導核磁気共鳴吸収装置(JNM-ECZ400) W3・110室 各研究室で講習を実施すること
超伝導核磁気共鳴吸収装置(JNM-ECZ500) W3・110室 清水准教授・2866 講習会受講が利用の条件
誘導結合プラズマ質量分析装置(Agilent7500c) W3・106室 事前にｻﾝﾌﾟﾙ情報提出必要
誘導結合プラズマ質量分析装置(Agilent7700x) W3・106室 事前にｻﾝﾌﾟﾙ情報提出必要
誘導結合プラズマ質量分析装置(Agilent7900) W3・106室 事前にｻﾝﾌﾟﾙ情報提出必要
示差熱熱重量同時測定装置(TG/DTA7300) W3・201室 Al容器は550℃まで
高感度示差走査熱分析装置(X-DSC7000) W3・201室 温度範囲：-80-500℃
高温型示差走査熱分析装置(DSC6300) W3・201室 Al容器は550℃まで
示差熱熱重量同時測定装置(NEXTA STA300) W3・201室 温度範囲：室温-1300℃
走査型プローブ顕微鏡(Dimension FastScan) W3・204室 　
走査型プローブ顕微鏡(DimensionIcon) W3・204室 プローブ込の料金
3D測定レーザー顕微鏡(OLS4500) W3・201室
フラットミリング装置(IM-3000) W3・101室 大上助教・2948
イオンミリング装置(E-3500) W3・101室 大上助教・2948
イオンコーティング装置(JFC-1600) W3・105室 ﾀｰｹﾞｯﾄはPt
イオンスパッタ(MC1000) W3・102室 ﾀｰｹﾞｯﾄはPt
カーボンコータ(SC-701C) W3・102室
Osコータ(HPC-1SW) W3・102室

中央分析センター(筑紫地区)

機器名 設置場所 担当者(内線) 備考
電界放出形走査電子顕微鏡JSM-6701F 中分102室 稲田准教授･93-7149 FE-SEM
電界放出型走査型電子顕微鏡(JSM-IT800SHL) 中分201室 稲田准教授･93-7149
透過型電子顕微鏡(H-7650) 中分104室 稲田准教授･93-7149
電子線３次元粗さ解析装置(ERA-8900) 中分102室 稲田准教授･93-7149 粗さ情報取得可能
波長分散型蛍光X線分析装置(ZSX PrimusⅣ/RX9) 中分201室 稲田准教授･93-7149
卓上型触針式プロファイリングシステム(DektakXT-E) 中分201室 稲田准教授･93-7149
ゼータ電位･粒径測定システム(ELSZneo) 中分306室 稲田准教授･93-7149
超高感度示差走査熱量計DSC6100 中分306室 三浦助教･93-7214 生体高分子、生体膜、蛋白質、遺伝子、細胞、食品等
高感度示差走査熱量計DSC6220 中分307室 三浦助教･93-7214 普通の物質
X線光電子分光分析装置AXIS-165 中分103室 三浦助教･93-7214 教官が付き添って操作。
赤外分光光度計FT/IR-4200 and IRT-5000 中分306室 三浦助教･93-7214 2012年12月新規導入。
簡易試料成形器も準備している。
走査型プローブ顕微鏡5500SPM 中分201室 三浦助教･93-7214 カンチレバーは利用者で用意。

中央分析センター部局管理装置(筑紫地区)

機器名 設置場所 担当者(内線) 備考
X線回折装置(SmartLabSE) 中分202室 稲田准教授･93-7149 X線登録必要

工学研究院部局管理装置

機器名 設置場所 担当者(内線) 備考
レーザーラマン分光光度計(NRS-3100KK) W3・114室 森川助教・2834
UV-Vis-NIR 分光光度計 W3・115室 白木准教授・2841
近赤外蛍光分光装置（NanoLOG-EXT） W3・612室 白木准教授・2841
全自動水平型多目的X線回折装置(SmartLab) W3・115室 白木准教授・2841
原子吸光分光光度計(AA-7000) W3・512室 南畑助教・2808
オールインワン蛍光顕微鏡(BZ-X800) W3・609室 岸村准教授・2851
フローサイトメーター(CytoFLEX S) W1・D909室 森准教授・2849
磁化率測定装置(MPMS-XL7TZ) CE61・102室 河江准教授・3521
差動型高温示差熱天秤(TG-DTA2020SA) W2・1001室 小宮助教・3431
電界放出型走査電子顕微鏡(S-4300SE) EN-41・105室 森川助教・2952
ショットキー走査電子顕微鏡（SU5000） W4・121-3室 田中（將）教授・2950
攪拌混合造粒機バーチカルグラニュレータ W4・306室 井上准教授・2757
整粒・微粉砕ラボシステム W4・710室 井上准教授・2757
卓上型混練機 W4・710室 井上准教授・2757 故障のため一時利用中止
卓上型テストコーター ミニラボ W4・710室 井上准教授・2757
ガス吸着装置 W3・112室 藤ヶ谷教授・2842 ARIM事業
小角X線散乱装置 W3・115室 増子技術職員・2845
井手技術職員・3308
善技術職員・3308		 ARIM事業
単結晶X線解析装置 W3・115室 増子技術職員・2845
井手技術職員・3308
善技術職員・3308		 ARIM事業
CCDマルチICP発光分光分析装置 W3・116室 藤ヶ谷教授・2842 ARIM事業
ゼータ電位／粒径測定システム W3・607室 藤ヶ谷教授・2842 ARIM事業
マイクロ構造観察電子顕微鏡システム W3・114室 藤ヶ谷教授・2842 ARIM事業
高速レーザーラマン顕微鏡 W3・607室 藤ヶ谷教授・2842 ARIM事業
触媒活性表面測定システム W3・112室 藤ヶ谷教授・2842 ARIM事業
中赤外・遠赤外吸収測定装置 W3・607室 藤ヶ谷教授・2842 ARIM事業
超高速HPLC分離・分子構造分析システム W3・113,114室 藤ヶ谷教授・2842
増子技術職員・2845		 ARIM事業
超高分解能走査電子顕微鏡 W3・114室 藤ヶ谷教授・2842 ARIM事業
電子状態測定システム W3・116室 藤ヶ谷教授・2842 ARIM事業
透過型電子顕微鏡システム W3・112室 増子技術職員・2845
井手技術職員・3308
善技術職員・3308		 ARIM事業

　  ARIM JAPAN 九州大学 ハブ拠点サイト(機器詳細はこちらへ)

人間環境学研究院部局管理装置

機器名 設置場所 担当者(内線) 備考
万能試験機(UH-2000kNXR) イーストゾーン・構造実験棟 小山准教授・5223
万能試験機(UH-500kNX) イーストゾーン・構造実験棟 小山准教授・5223

農学研究院部局管理装置

 農学研究院研究教育支援センター(機器詳細はこちらへ)

機器名 設置場所 担当者(内線)
高速液体クロマトグラフ質量分析計(LCMS-IT-TOF) W5・305a室 赤坂技術職員(90-4801)
高速液体クロマトグラフ質量分析装置(LCMS-8050) W5・305a室 赤坂技術職員(90-4801)
レーザーイオン化飛行時間質量分析装置(AXIMA-Performance) W5・305b室 松永技術専門職員(90-4801)
ガスクロマトグラフ(GC-2014AFsc) W5・305b室 松永技術専門職員(90-4801)
誘導結合プラズマ発行分光分析計(5800 ICP-OES) W5・305c室 松永技術専門職員(90-4801)
セルアナライザー(Sony EC800) W5・307a室 鵜木技術専門職員(90-4801)
セルソーター(Sony SH800) W5・307a室 鵜木技術専門職員(90-4801)
共焦点・超解像顕微鏡(TCS SP8 STED) W5・307b室 奥川技術職員(90-4801)
顕微蛍光セルマニピュレーター(IX73-NK2-vario) W5・307b室 奥川技術職員(90-4801)
次世代シーケンサー(MiSeq) W5・310室 田宮技術職員(90-4801)
核磁気共鳴装置(JNM-ECS400) W5・115室 鹿児嶋技術職員(90-4801)
走査型電子顕微鏡システム(SU3500) W5・116室 山口技術職員(90-4801)
デジタルマイクロスコープ(VHX-6000) W5・307c室 山口技術職員(90-4801)
凍結切片作製装置(CryoStar NX70) W5・311室 鶴田技術専門員(90-4801)
回転式ミクロトーム(HistoCore AUTOCUT R) W5・311室 鶴田技術専門員(90-4801)

総理工機器共同利用機構

機器名 設置場所 担当者(内線) 備考
X線回折計Rigaku RINT2200 総理工C棟107室 永長教授93-7525 粉末・薄膜両試料測定可能
蛍光X線分析装置
Rigaku ZSX-miniX		 総理工C棟107室 永長教授93-7525 固体・液体両試料測定可能

グローバルイノベーションセンター

機器名 設置場所 担当者(内線) 備考
レーザーラマン分光装置 Nanofinder 30 GIC実験室5 吾郷教授93-8852

先導物質化学研究所

機器名 設置場所 担当者(内線) 備考
核磁気共鳴装置(＊)
JEOL JNM-ECA600		 NMR解析棟 出田技術専門職員93-8898 ２次元、多核可能。依頼分析のみ。
※詳細についてはご相談ください。
固体高分解能核磁気共鳴装置
JEOL JNM-ECA400		 NMR解析棟 出田技術専門職員93-8898 固体専用、多核可能。依頼分析のみ。
基本料金は３時間以内のCP/MAS測定。
※詳細についてはご相談ください。
電子共鳴装置(＊)
JEOL JES-FA200		 先導研南棟
401号室		 出田技術専門職員93-8898
二重収束質量分析計JMS-700 先導研南棟
215号室		 今村技術職員
93-8898		 依頼分析のみ。
コールドスプレーイオン化飛行時型質量分析装置JMS-T100CS 先導研南棟
401号室		 田中技術職員
93-8898		 立会い測定のみ。
超高輝度CCD単結晶
X線構造解析装置Varimaｘ(Mo)		 先導研北棟
421号室		 松本技術職員
93-8898		 依頼分析のみ。
※詳細についてはご相談ください。
マトリックス支援レーザー脱離
イオン化飛行時間型質量分析計
JMS-S3000		 先導研南棟
215号室		 今村技術職員
93-8898		 依頼分析のみ。
超強力単結晶構造解析システム (FR-E+) 先導研北棟
421号室		 松本技術職員
93-8898		 依頼分析のみ。
二波長線源型高分解能単結晶X線構造解析装置 先導研北棟
421号室		 松本技術職員
93-8898
高輝度広角Ｘ線回折システム
薄膜解析部(RINT-TTRⅢ)		 先導研北棟
205号室		 松本技術職員
93-8898		 依頼分析のみ。
高輝度広角Ｘ線回折システム
熱量同時評価部 (SmartLab)		 先導研北棟
205号室		 松本技術職員
93-8898		 依頼分析のみ。
高分解能小角散乱装置(NANOSTAR) 先導研北棟
205号室		 松本技術職員
93-8898		 依頼分析のみ。
超伝導核磁気共鳴装置
(JNM-ECZ400)		 先導研南棟
107号室		 出田技術職員
93-8898		 依頼分析のみ。
固体核磁気共鳴装置
(JNM-ECA800)		 先導研北棟
107号室		 出田技術職員
93-8898		 依頼分析のみ。
固液共用核磁気共鳴装置(JNM-ECX400) 先導研北棟
107号室		 出田技術職員
93-8898		 依頼分析のみ。
液体･ガス測定、固体測定
デジタルマイクロスコープ
(VHX-900F)		 先導研南棟
109号室		 田中技術職員
93-8898		 依頼分析のみ。
走査電子顕微鏡(JSM-IT700HR) 先導研南棟
109号室		 田中技術職員
93-8898
超高感度測定用NMR装置(AVANCEⅢ600) 伊都CE41
107号室		 谷准教授
90-6224
マトリックス支援レーザー脱離
イオン化飛行時間型質量分析装置
(Bruker Autoflex Ⅱ)		 伊都CE41
110号室		 谷准教授
90-6224
高分解能二重収束質量分析装置(JMS-700) 伊都CE41
110号室		 岡崎技術補佐員
90-6219		 依頼分析のみ。
飛行時間型質量分析計
(JSM-T100CS)		 伊都CE41
110号室		 五島助教
90-6225
X線光電子分光分析装置 (ULVAC-PHI APEX ESCA) 伊都CE41
112号室		 大路ﾃｸﾆｶﾙｽﾀｯﾌ
90-6214
二光子共焦点レーザー顕微鏡 (Carl Zeiss LSM 510 Meta NLO) 伊都CE41
112号室		 大路ﾃｸﾆｶﾙｽﾀｯﾌ
90-6214

応用力学研究所

機器名 設置場所 担当者(内線) 備考
重イオン照射システム 応力研研究棟
118･119室		 渡辺准教授
93-7717		 依頼分析のみ。
放射性物質対応型強磁性材料ナノクラスター評価システム
(JEM-ARM200CF)		  ｱｲｿﾄｰﾌﾟ総合ｾﾝﾀｰ
病院地区実験室
電子顕微鏡室		 渡辺准教授
93-7717		 依頼分析のみ。

【注釈】
 ・・・病院地区に設置されている装置。

先端素粒子物理研究センター

機器名 設置場所 担当者(内線) 備考
シリコン検出器製造装置 W1E棟801室 東城准教授90-4053

比較社会文化研究院

機器名 設置場所 担当者(内線) 備考
デスクトップＸ線回折装置(MiniFlex600) E1-C701室 桑原教授90-5654
林講師90-5655
フィールドエミッション電子プローブマイクロアナライザ(JXA-8530F) E1-C723室 中野講師90-5656 依頼分析のみ。
高分解能重元素質量分析システム E1-C107-3室 中野講師90-5656 依頼分析のみ。
レーザーアブレーション ICP-MS E1-C107-3室 中野講師90-5656 依頼分析のみ。
軽元素同位体分析システム(MAT 253) E1-C717室 仙田准教授90-5653 依頼分析のみ。

生体防御医学研究所

機器名 設置場所 担当者(内線) 備考
高性能透過型電子顕微鏡(FEI Polara) 生体防御医学研究所別館　高性能TEM室 鵜川技術職員91-6798
汎用透過型電子顕微鏡(FEI Tecnai20) 生体防御医学研究所別館　汎用TEM室 鵜川技術職員91-6798
次世代シーケンサー(NovaSeq 6000) 生体防御医学研究所　技術支援室 秋永ﾃｸﾆｶﾙｽﾀｯﾌ91-6798
凍結切片作製装置　クリオスタットCM3050S 生体防御医学研究所 市川技術職員91-6798
Chromium コントローラー 生体防御医学研究所 木庭技術職員91-6798
回折装置　バイオアナライザー 生体防御医学研究所 木庭技術職員91-6798
FACSVerse　フローサイトメーター 生体防御医学研究所 鵜川技術職員91-6798
細胞単離解析システム(FACSMelody) 生体防御医学研究所 鵜川技術職員91-6798