中央分析センターで共同利用できる機器は、センター管理の所管装置と各部局が管理し、所定の手続きにより
センターの共同利用機器として登録された部局管理装置があります。
【所管装置】
中央分析センター(伊都地区)
中央分析センター(筑紫地区)
【部局管理装置】
中央分析センター部局管理装置(筑紫地区)
工学研究院部局管理装置
人間環境学研究院部局管理装置
農学研究院部局管理装置
総理工機器共同利用機構
グローバルイノベーションセンター
先導物質化学研究所
応用力学研究所
先端素粒子物理研究センター
比較社会文化研究院
生体防御医学研究所
中央分析センター(伊都地区)
中央分析センター(筑紫地区)
【部局管理装置】
中央分析センター部局管理装置(筑紫地区)
工学研究院部局管理装置
人間環境学研究院部局管理装置
農学研究院部局管理装置
総理工機器共同利用機構
グローバルイノベーションセンター
先導物質化学研究所
応用力学研究所
先端素粒子物理研究センター
比較社会文化研究院
生体防御医学研究所
中央分析センター(伊都地区)
伊都分室の担当者(内線) : 渡辺助教 (2857)
中央分析センター(筑紫地区)
機器名 | 設置場所 | 担当者(内線) | 備考 |
---|---|---|---|
電界放出形走査電子顕微鏡JSM-6701F | 中分102室 | 稲田准教授・93-7149 | FE-SEM |
電界放出型走査型電子顕微鏡(JSM-IT800SHL) | 中分201室 | 稲田准教授・93-7149 | |
透過型電子顕微鏡(H-7650) | 中分104室 | 稲田准教授・93-7149 | |
電子線3次元粗さ解析装置(ERA-8900) | 中分102室 | 稲田准教授・93-7149 | 粗さ情報取得可能 |
波長分散型蛍光X線分析装置(ZSX PrimusⅣ/RX9) | 中分201室 | 稲田准教授・93-7149 | |
卓上型触針式プロファイリングシステム(DektakXT-E) | 中分201室 | 稲田准教授・93-7149 | |
ゼータ電位・粒径測定システム(ELSZneo) | 中分306室 | 稲田准教授・93-7149 | |
ICP発光分光分析装置Perkin Elmer Avio220Max(ICP発光) | 中分307室 | 稲田准教授・93-7149 | |
超高感度示差走査熱量計DSC6100 | 中分306室 | 三浦助教・93-7214 | 生体高分子、生体膜、蛋白質、遺伝子、細胞、食品等 |
高感度示差走査熱量計DSC6220 | 中分307室 | 三浦助教・93-7214 | 普通の物質 |
X線光電子分光分析装置AXIS-165 | 中分103室 | 三浦助教・93-7214 | 教官が付き添って操作。 |
赤外分光光度計FT/IR-4200 and IRT-5000 | 中分306室 | 三浦助教・93-7214 | 2012年12月新規導入。 簡易試料成形器も準備している。 |
走査型プローブ顕微鏡5500SPM | 中分201室 | 三浦助教・93-7214 | カンチレバーは利用者で用意。 |
中央分析センター部局管理装置(筑紫地区)
機器名 | 設置場所 | 担当者(内線) | 備考 |
---|---|---|---|
X線回折装置(SmartLabSE) | 中分202室 | 稲田准教授・93-7149 | X線登録必要 |
工学研究院部局管理装置
機器名 | 設置場所 | 担当者(内線) | 備考 |
---|---|---|---|
レーザーラマン分光光度計(NRS-3100KK) | W3・114室 | 森川助教・2834 | |
近赤外蛍光分光装置(NanoLOG-EXT) | W3・612室 | 白木准教授・2841 | |
原子吸光分光光度計(AA-7000) | W3・512室 | 若林准教授・2809 | |
オールインワン蛍光顕微鏡(BZ-X800) | W3・609室 | 岸村准教授・2851 | |
フローサイトメーター(CytoFLEX S) | W1・D909室 | 森准教授・2849 | |
磁化率測定装置(MPMS-XL7TZ) | CE61・102室 | 河江准教授・3521 | |
差動型高温示差熱天秤(TG-DTA2020SA) | W2・1001室 | 小宮助教・3431 | |
電界放出型走査電子顕微鏡(S-4300SE) | EN-41・105室 | 森川助教・2952 | |
ショットキー走査電子顕微鏡(SU5000) | W4・121-3室 | 田中(將)教授・2950 | |
攪拌混合造粒機バーチカルグラニュレータ | W4・306室 | 井上准教授・2757 | |
整粒・微粉砕ラボシステム | W4・710室 | 井上准教授・2757 | |
卓上型混練機 | W4・710室 | 井上准教授・2757 | 故障のため一時利用中止 |
卓上型テストコーター ミニラボ | W4・710室 | 井上准教授・2757 | |
UV-Vis-NIR 分光光度計 | W3・115室 | 藤ヶ谷教授・2845 | ARIM事業 |
全自動水平型多目的X線回折装置(SmartLab) | W3・115室 | 藤ヶ谷教授・2845 | ARIM事業 |
ガス吸着装置 | W3・112室 | 藤ヶ谷教授・2842 | ARIM事業 |
小角X線散乱装置 | W3・115室 | 増子技術職員・2845 井手技術職員・3308 善技術職員・3308 |
ARIM事業 |
単結晶X線解析装置 | W3・115室 | 増子技術職員・2845 井手技術職員・3308 善技術職員・3308 |
ARIM事業 |
CCDマルチICP発光分光分析装置 | W3・116室 | 藤ヶ谷教授・2842 | ARIM事業 |
ゼータ電位/粒径測定システム | W3・607室 | 藤ヶ谷教授・2842 | ARIM事業 |
マイクロ構造観察電子顕微鏡システム | W3・114室 | 藤ヶ谷教授・2842 | ARIM事業 |
高速レーザーラマン顕微鏡 | W3・607室 | 藤ヶ谷教授・2842 | ARIM事業 |
触媒活性表面測定システム | W3・112室 | 藤ヶ谷教授・2842 | ARIM事業 |
中赤外・遠赤外吸収測定装置 | W3・607室 | 藤ヶ谷教授・2842 | ARIM事業 |
超高速HPLC分離・分子構造分析システム | W3・113,114室 | 藤ヶ谷教授・2842 増子技術職員・2845 |
ARIM事業 |
超高分解能走査電子顕微鏡 | W3・114室 | 藤ヶ谷教授・2842 | ARIM事業 |
電子状態測定システム | W3・116室 | 藤ヶ谷教授・2842 | ARIM事業 |
透過型電子顕微鏡システム | W3・112室 | 増子技術職員・2845 井手技術職員・3308 善技術職員・3308 |
ARIM事業 |
MALDI-TOF MS質量分析装置 | W3・114室 | 増子技術職員・2845 | ARIM事業 |
走査型プローブ顕微鏡 SPM9600 | W3・113室 | 善技術職員・3308 | ARIM事業 |
ウルトラミクロトーム EM UC7 | W3・116室 | 善技術職員・3308 | ARIM事業 |
3次元SEM画像測定解析システム VE-8800 | W3・114室 | KIM学術研究員・2845 | ARIM事業 |
ARIM JAPAN 九州大学 ハブ拠点サイト(機器詳細はこちらへ)
人間環境学研究院部局管理装置
機器名 | 設置場所 | 担当者(内線) | 備考 |
---|---|---|---|
万能試験機(UH-2000kNXR) | イーストゾーン・構造実験棟 | 小山准教授・5223 | |
万能試験機(UH-500kNX) | イーストゾーン・構造実験棟 | 小山准教授・5223 | |
農学研究院部局管理装置
機器名 | 設置場所 | 担当者(内線) | 高速液体クロマトグラフ質量分析計(LCMS-IT-TOF) | W5・305a室 | 赤坂技術職員(90-4801) |
---|---|---|
高速液体クロマトグラフ質量分析装置(LCMS-8050) | W5・305a室 | 赤坂技術職員(90-4801) |
レーザーイオン化飛行時間質量分析装置(AXIMA-Performance) | W5・305b室 | 松永技術専門職員(90-4801) |
ガスクロマトグラフ(GC-2014AFsc) | W5・305b室 | 松永技術専門職員(90-4801) |
誘導結合プラズマ発行分光分析計(5800 ICP-OES) | W5・305c室 | 松永技術専門職員(90-4801) |
セルソーター(Sony SH800) | W5・307a室 | 奥川技術職員(90-4801) |
共焦点・超解像顕微鏡(TCS SP8 STED) | W5・307b室 | 奥川技術職員(90-4801) |
次世代シーケンサー(MiSeq) | W5・310室 | 田宮技術職員(90-4801) |
核磁気共鳴装置(JNM-ECS400) | W5・115室 | 鹿児嶋技術職員(90-4801) |
走査型電子顕微鏡システム(SU3500) | W5・116室 | 山口技術職員(90-4801) |
デジタルマイクロスコープ(VHX-6000) | W5・307c室 | 山口技術職員(90-4801) |
凍結切片作製装置(CryoStar NX70) | W5・311室 | 鶴田技術専門員(90-4801) |
回転式ミクロトーム(HistoCore AUTOCUT R) | W5・311室 | 鶴田技術専門員(90-4801) |
総理工機器共同利用機構
機器名 | 設置場所 | 担当者(内線) | 備考 |
---|---|---|---|
X線回折計Rigaku RINT2200 | 総理工C棟107室 | 永長教授93-7525 | 粉末・薄膜両試料測定可能 |
蛍光X線分析装置 Rigaku ZSX-miniX |
総理工C棟107室 | 永長教授93-7525 | 固体・液体両試料測定可能 |
グローバルイノベーションセンター
機器名 | 設置場所 | 担当者(内線) | 備考 |
---|---|---|---|
レーザーラマン分光装置 Nanofinder 30 | GIC実験室5 | 吾郷教授93-8852 |
先導物質化学研究所
機器名 | 設置場所 | 担当者(内線) | 備考 |
---|---|---|---|
核磁気共鳴装置(*) JEOL JNM-ECA600 |
NMR解析棟 | 出田技術専門職員93-8898 | 2次元、多核可能。依頼分析のみ。 ※詳細についてはご相談ください。 |
固体高分解能核磁気共鳴装置 JEOL JNM-ECA400 |
NMR解析棟 | 出田技術専門職員93-8898 | 固体専用、多核可能。依頼分析のみ。 基本料金は3時間以内のCP/MAS測定。 ※詳細についてはご相談ください。 |
電子共鳴装置(*) JEOL JES-FA200 |
先導研南棟 401号室 |
出田技術専門職員93-8898 | |
二重収束質量分析計JMS-700 | 先導研南棟 215号室 |
今村技術職員 93-8898 |
依頼分析のみ。 |
コールドスプレーイオン化飛行時型質量分析装置JMS-T100CS | 先導研南棟 401号室 |
田中技術職員 93-8898 |
立会い測定のみ。 |
マトリックス支援レーザー脱離 イオン化飛行時間型質量分析計 JMS-S3000 |
先導研南棟 215号室 |
今村技術職員 93-8898 |
依頼分析のみ。 |
超強力単結晶構造解析システム (FR-E+) | 先導研北棟 421号室 |
松本技術職員 93-8898 |
依頼分析のみ。 |
二波長線源型高分解能単結晶X線構造解析装置 | 先導研北棟 421号室 |
松本技術職員 93-8898 |
|
高輝度広角X線回折システム 薄膜解析部(RINT-TTRⅢ) |
先導研北棟 205号室 |
松本技術職員 93-8898 |
依頼分析のみ。 |
高輝度広角X線回折システム 熱量同時評価部 (SmartLab) |
先導研北棟 205号室 |
松本技術職員 93-8898 |
依頼分析のみ。 |
高分解能小角散乱装置(NANOSTAR) | 先導研北棟 205号室 |
松本技術職員 93-8898 |
依頼分析のみ。 |
超伝導核磁気共鳴装置 (JNM-ECZ400) |
先導研南棟 107号室 |
出田技術職員 93-8898 |
依頼分析のみ。 |
固体核磁気共鳴装置 (JNM-ECA800) |
先導研北棟 107号室 |
出田技術職員 93-8898 |
依頼分析のみ。 |
固液共用核磁気共鳴装置(JNM-ECX400) | 先導研北棟 107号室 |
出田技術職員 93-8898 |
依頼分析のみ。 液体・ガス測定、固体測定 |
デジタルマイクロスコープ (VHX-900F) |
先導研南棟 109号室 |
田中技術職員 93-8898 |
依頼分析のみ。 |
走査電子顕微鏡(JSM-IT700HR) | 先導研南棟 109号室 |
田中技術職員 93-8898 |
|
オスミウムコータ(Tennant20) | 先導研南棟 109号室 |
田中技術職員 93-8898 |
|
超高感度測定用NMR装置(AVANCEⅢ600) | 伊都CE41 107号室 |
谷准教授 90-6224 |
|
マトリックス支援レーザー脱離 イオン化飛行時間型質量分析装置 (Bruker Autoflex Ⅱ) |
伊都CE41 110号室 |
五島助教 90-6225 |
|
高分解能二重収束質量分析装置(JMS-700) | 伊都CE41 110号室 |
岡崎技術補佐員 90-6219 |
依頼分析のみ。 |
飛行時間型質量分析計 (JSM-T100CS) |
伊都CE41 110号室 |
五島助教 90-6225 |
|
X線光電子分光分析装置 (ULVAC-PHI APEX ESCA) | 伊都CE41 112号室 |
大路テクニカルスタッフ 90-6214 |
|
二光子共焦点レーザー顕微鏡 (Carl Zeiss LSM 510 Meta NLO) | 伊都CE41 112号室 |
大路テクニカルスタッフ 90-6214 |
応用力学研究所
機器名 | 設置場所 | 担当者(内線) | 備考 |
---|---|---|---|
重イオン照射システム | 応力研研究棟 118・119室 |
渡辺准教授 93-7717 |
依頼分析のみ。 |
放射性物質対応型強磁性材料ナノクラスター評価システム (JEM-ARM200CF) |
アイソトープ総合センター 病院地区実験室 電子顕微鏡室 |
渡辺准教授 93-7717 |
依頼分析のみ。 |
【注釈】
・・・病院地区に設置されている装置。
先端素粒子物理研究センター
機器名 | 設置場所 | 担当者(内線) | 備考 |
---|---|---|---|
シリコン検出器製造装置 | W1E棟801室 | 東城准教授90-4053 |
比較社会文化研究院
機器名 | 設置場所 | 担当者(内線) | 備考 |
---|---|---|---|
デスクトップX線回折装置(MiniFlex600) | E1-C701室 | 桑原教授90-5654 林講師90-5655 |
|
フィールドエミッション電子プローブマイクロアナライザ(JXA-8530F) | E1-C723室 | 中野講師90-5656 | 依頼分析のみ。 |
高分解能重元素質量分析システム | E1-C107-3室 | 中野講師90-5656 | 依頼分析のみ。 |
レーザーアブレーション ICP-MS | E1-C107-3室 | 中野講師90-5656 | 依頼分析のみ。 |
軽元素同位体分析システム(MAT 253) | E1-C717室 | 仙田准教授90-5653 | 依頼分析のみ。 |
生体防御医学研究所
機器名 | 設置場所 | 担当者(内線) | 備考 |
---|---|---|---|
高性能透過型電子顕微鏡(FEI Polara) | 生体防御医学研究所別館 高性能TEM室 | 鵜川技術職員91-6798 | |
汎用透過型電子顕微鏡(FEI Tecnai20) | 生体防御医学研究所別館 汎用TEM室 | 鵜川技術職員91-6798 | |
次世代シーケンサー(NovaSeq 6000) | 生体防御医学研究所 技術支援室 | 秋永テクニカルスタッフ91-6798 | |
凍結切片作製装置 クリオスタットCM3050S | 生体防御医学研究所 | 市川技術職員91-6798 | |
Chromium コントローラー | 生体防御医学研究所 | 木庭技術職員91-6798 | |
回折装置 バイオアナライザー | 生体防御医学研究所 | 木庭技術職員91-6798 | |
FACSVerse フローサイトメーター | 生体防御医学研究所 | 鵜川技術職員91-6798 | |
細胞単離解析システム(FACSMelody) | 生体防御医学研究所 | 鵜川技術職員91-6798 |