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SKYSCAN1172
 測定対象物を回転させながら、X線透過データを連続して収集し、再構成のデータ処理を行なうと対象物全体の内部構造情報を含んだデータに変換することができる。非破壊で試料の内部構造を可視化することができ、空隙率など数値データを取得できる。利用者は各種解析ソフトウェアは無償で使用可能。
[X線源]密閉型マイクロフォーカスX線源(出力80kV)
[最高分解能] <800nm (但し、この場合のサンプルサイズの制限有) [搭載可能最大サンプルサイズ] 70mmH, Φ50mm