Ｘ線回折装置の測定対象試料は、ｾﾗﾐｯｸｽ、金属、高分子等多岐に渡るが本装置は多様な試料に対応するために、試料を水平に保持して測定する水平型ｺﾞﾆｵﾒｰﾀを採用している。粉末Ｘ線回折解析ｿﾌﾄ（PDXL)及びICDDﾃﾞｰﾀﾍﾞｰｽを搭載。未知試料の同定や各種応用解析が可能。他ﾒｰｶｰの装置で測定したﾃﾞｰﾀも解析できる。解析ｿﾌﾄはﾉｰﾄPCにて貸出可能。