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九州大学 中央分析センター

筑紫地区関係

◎ 利用可能 ○ 条件付利用可能
装 置 名 機 種 依頼分析 装置利用 仲介可能 備 考
超高感度示差走査熱量計 セイコー電子工業 DSC6100   パソコン更新
高感度示差走査熱量計 SII DSC6220    
X線光電子分光分析装置 島津 KRATOS AXIS165    
超伝導核磁気共鳴装置500MHz Varian製 UNITY INOVA    
粒径測定システム 大塚電子 ELSZ-0S     本体更新
赤外分光光度計 日本分光 FTIR4200 & IRT-5000     新規
走査型プローブ顕微鏡 Agilent製 5000      
光交流法比熱測定装置 真空理工 ACC-1    
エネルギー分散型蛍光X線分析装置 島津製作所 EDX-800    
ICP発光分光装置 セイコーインスツルメンツ SPS1700HVR    
電界放射走査型電子顕微鏡 日本電子株式会社 JSM-6340F    
レーザーラマン分光光度計 日本分光 NRS-2000    
表面形状測定装置 DEKTAK3    
注)「赤外分光分析装置 日本分光 FT/IR-550」、「光散乱光度計 大塚電子SLS-600」欄は削除しました。

伊都地区関係

装 置 名 機 種 依頼分析 装置利用 仲介可能 備 考
走査型電子顕微鏡 島津製作所 SS-550    
電子線3次元粗さ解析装置 エリオニクス ERA8900    
低真空高感度走査電子顕微鏡 日立ハイテクノロジーズ SU3500    
大気圧走査電子顕微鏡 日立ハイテクノロジーズAeroSurf1500    
超高分解能電界放出型走査電子顕微鏡 日立ハイテクノロジーズ SU8000    
低真空分析走査電子顕微鏡 日立ハイテクノロジーズ SU6600    
電界放出形走査電子顕微鏡 日本電子JSM6701F    
粉末X線回折装置 リガク MultiFlex    
全自動水平型多目的X線回折装置 リガク SmartLab    
エネルギー分散型蛍光X線分析装置 島津製作所EDX7000    
X線分析顕微鏡 堀場製作所 XGT5000    
高分解能3次元X線CTシステム Bruker SKYSCAN1172    
フーリエ変換赤外分光光度計 日本分光 FT/IR-620    
マルチチャンネル赤外顕微鏡システム 日本分光 IRT-7200    
顕微レーザーラマン分光装置 堀場製作所 LabRAM ARAMIS    
自動薄膜計測装置 堀場製作所 Auto SE    
誘導結合プラズマ質量分析装置 アジレント Agilent 7500c    
誘導結合プラズマ質量分析装置 アジレント Agilent 7700x    
示差熱熱重量同時測定装置 日立ハイテクサイエンス TG/DTA 7300    
高感度示差走査熱分析装置 日立ハイテクサイエンス X-DSC7000    
高温型示差走査熱分析装置 日立ハイテクサイエンス DSC6300    
走査型プローブ顕微鏡 Bruker DimensionIcon    
3D測定レーザー顕微鏡(ナノサーチ顕微) 島津製作所 OLS4500    
フラットミリング装置 日立ハイテクノロジーズ IM-3000    
イオンミリング装置 日立ハイテクノロジーズ E-3500    
イオンコーティング装置 日本電子 JFC-1600    
イオンスパッタ 日立ハイテクノロジーズ MC1000    
カーボンコータ サンユー電子 SC-701C    
オスミウムコータ 真空デバイス HPC-1SW    
超伝導核磁気共鳴吸収装置 日本電子 JNM-ECZ400      
超伝導核磁気共鳴吸収装置 日本電子 JNM-ECZ500      
◆機器の詳細情報・お問合せ先 : 九州大学 中央分析センターHPへ