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九州大学 中央分析センター

筑紫地区関係

◎ 利用可能 ○ 条件付利用可能
装 置 名 機 種 依頼分析 装置利用 仲介可能 備 考
電子線3次元粗さ解析装置 エリオニクス ERA-8900      
電界放出形走査電子顕微鏡 日本電子 JSM6701F      
電界放出型走査型電子顕微鏡 日本電子 JSM-IT800SHL    
透過型電子顕微鏡 日立 H-7650      
X線回折装置 リガク SmartLabSE      
波長分散型蛍光X線分析装置 リガク ZSX PrimusⅣ/RX9    
卓上型触針式プロファイリングシステム ブルカージャパン DektakXT-E    
超高感度示差走査熱量計 セイコー電子工業 DSC6100      
高感度示差走査熱量計 SII DSC6220      
X線光電子分光分析装置 島津 KRATOS AXIS165  ○      
赤外分光光度計 日本分光 FTIR4200 & IRT-5000      
走査型プローブ顕微鏡 Agilent製 5000      

伊都地区関係

装 置 名 機 種 依頼分析 装置利用 仲介可能 備 考
超高分解能電界放出型走査電子顕微鏡 日立ハイテクノロジーズ SU8000    
低真空分析走査電子顕微鏡 日立ハイテクノロジーズ SU6600    
低真空高感度走査電子顕微鏡 日立ハイテクノロジーズ SU3500    
走査電子顕微鏡 日本電子 JSM-IT700HR     
大気圧走査電子顕微鏡 日立ハイテクノロジーズAeroSurf1500    
全自動水平型多目的X線回折装置 リガク SmartLab    
デスクトップX線回折装置 リガク MiniFlex600-C    
エネルギー分散型蛍光X線分析装置 島津製作所EDX7000    
X線分析顕微鏡 堀場製作所 XGT5000    
微小部X線分析装置 堀場製作所 XGT9000    
高分解能3次元X線CTシステム Bruker SKYSCAN1172    
高分解能卓上型マイクロCTシステム Bruker SKYSCAN1272    
フーリエ変換赤外分光光度計 日本分光 FT/IR-620    
フーリエ変換赤外分光光度計 日本分光 FT/IR-4700    
マルチチャンネル赤外顕微鏡システム 日本分光 IRT-7200    
顕微レーザーラマン分光装置 堀場製作所 LabRAM ARAMIS    
顕微レーザーラマン分光測定装置 堀場製作所 LabRAM HR Evolution    
自動薄膜計測装置 堀場製作所 Auto SE    
誘導結合プラズマ質量分析装置 アジレント Agilent 7500c    
誘導結合プラズマ質量分析装置 アジレント Agilent 7700x    
誘導結合プラズマ質量分析装置 アジレント Agilent 7900    
示差熱熱重量同時測定装置 日立ハイテクサイエンス TG/DTA 7300    
高感度示差走査熱分析装置 日立ハイテクサイエンス X-DSC7000    
高温型示差走査熱分析装置 日立ハイテクサイエンス DSC6300    
示差熱熱重量同時測定装置 日立ハイテクサイエンス NEXTA STA300      
走査型プローブ顕微鏡 ブルカージャパン Dimension FastScan    
走査型プローブ顕微鏡 ブルカージャパン DimensionIcon    
3D測定レーザー顕微鏡(ナノサーチ顕微) 島津製作所 OLS4500    
フラットミリング装置 日立ハイテクノロジーズ IM-3000      
イオンミリング装置 日立ハイテクノロジーズ E-3500      
イオンコーティング装置 日本電子 JFC-1600    
イオンスパッタ 日立ハイテクノロジーズ MC1000    
カーボンコータ サンユー電子 SC-701C    
オスミウムコータ 真空デバイス HPC-1SW    
超伝導核磁気共鳴吸収装置 日本電子 JNM-ECZ400      
超伝導核磁気共鳴吸収装置 日本電子 JNM-ECZ500      
◆機器の詳細情報・お問合せ先 : 九州大学 中央分析センターHPへ