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九州大学 中央分析センター
筑紫地区関係
◎ 利用可能 ○ 条件付利用可能| 装 置 名 | 機 種 | 依頼分析 | 装置利用 | 仲介可能 | 備 考 |
|---|---|---|---|---|---|
| 電子線3次元粗さ解析装置 | エリオニクス ERA-8900 | ○ | |||
| 電界放出形走査電子顕微鏡 | 日本電子 JSM6701F | ○ | |||
| 電界放出型走査型電子顕微鏡 | 日本電子 JSM-IT800SHL | ◎ | ◎ | ||
| 透過型電子顕微鏡 | 日立 H-7650 | ○ | |||
| Ｘ線回折装置 | リガク SmartLabSE | ◎ | |||
| 波長分散型蛍光X線分析装置 | リガク ZSX PrimusⅣ/RX9 | ◎ | ◎ | ||
| 卓上型触針式プロファイリングシステム | ブルカージャパン DektakXT-E | ◎ | ◎ | ||
| 超高感度示差走査熱量計 | セイコー電子工業 DSC6100 | ◎ | |||
| 高感度示差走査熱量計 | SII DSC6220 | ◎ | |||
| Ｘ線光電子分光分析装置 | 島津 KRATOS AXIS165 | ◎ | ○ | ||
| 赤外分光光度計 | 日本分光 FTIR4200 & IRT-5000 | ◎ | |||
| 走査型プローブ顕微鏡 | Agilent製 5000 | ◎ |
伊都地区関係
| 装 置 名 | 機 種 | 依頼分析 | 装置利用 | 仲介可能 | 備 考 |
|---|---|---|---|---|---|
| 超高分解能電界放出型走査電子顕微鏡 | 日立ハイテクノロジーズ SU8000 | ◎ | ◎ | ||
| 低真空分析走査電子顕微鏡 | 日立ハイテクノロジーズ SU6600 | ◎ | ◎ | ||
| 低真空高感度走査電子顕微鏡 | 日立ハイテクノロジーズ SU3500 | ◎ | ◎ | ||
| 走査電子顕微鏡 | 日本電子 JSM-IT700HR | ◎ | ◎ | ||
| 大気圧走査電子顕微鏡 | 日立ハイテクノロジーズAeroSurf1500 | ◎ | ◎ | ||
| 全自動水平型多目的Ｘ線回折装置 | リガク SmartLab | ◎ | ◎ | ||
| デスクトップＸ線回折装置 | リガク MiniFlex600-C | ◎ | ◎ | ||
| エネルギー分散型蛍光X線分析装置 | 島津製作所EDX7000 | ◎ | ◎ | ||
| Ｘ線分析顕微鏡 | 堀場製作所 XGT5000 | ◎ | ◎ | ||
| 微小部X線分析装置 | 堀場製作所 XGT9000 | ◎ | ◎ | ||
| 高分解能3次元X線CTシステム | Bruker SKYSCAN1172 | ◎ | ◎ | ||
| 高分解能卓上型マイクロCTシステム | Bruker SKYSCAN1272 | ◎ | ◎ | ||
| フーリエ変換赤外分光光度計 | 日本分光 FT/IR-620 | ◎ | ◎ | ||
| フーリエ変換赤外分光光度計 | 日本分光 FT/IR-4700 | ◎ | ◎ | ||
| マルチチャンネル赤外顕微鏡システム | 日本分光 IRT-7200 | ◎ | ◎ | ||
| 顕微レーザーラマン分光装置 | 堀場製作所 LabRAM ARAMIS | ◎ | ◎ | ||
| 顕微レーザーラマン分光測定装置 | 堀場製作所 LabRAM HR Evolution | ◎ | ◎ | ||
| 自動薄膜計測装置 | 堀場製作所 Auto SE | ◎ | ◎ | ||
| 誘導結合プラズマ質量分析装置 | アジレント Agilent 7500c | ◎ | ◎ | ||
| 誘導結合プラズマ質量分析装置 | アジレント Agilent 7700x | ◎ | ◎ | ||
| 誘導結合プラズマ質量分析装置 | アジレント Agilent 7900 | ◎ | ◎ | ||
| 示差熱熱重量同時測定装置 | 日立ハイテクサイエンス TG/DTA 7300 | ◎ | ◎ | ||
| 高感度示差走査熱分析装置 | 日立ハイテクサイエンス X-DSC7000 | ◎ | ◎ | ||
| 高温型示差走査熱分析装置 | 日立ハイテクサイエンス DSC6300 | ◎ | ◎ | ||
| 示差熱熱重量同時測定装置 | 日立ハイテクサイエンス NEXTA STA300 | ◎ | |||
| 走査型プローブ顕微鏡 | ブルカージャパン Dimension FastScan | ◎ | ◎ | ||
| 走査型プローブ顕微鏡 | ブルカージャパン DimensionIcon | ◎ | ◎ | ||
| 3Ｄ測定レーザー顕微鏡(ナノサーチ顕微) | 島津製作所 OLS4500 | ◎ | ◎ | ||
| フラットミリング装置 | 日立ハイテクノロジーズ IM-3000 | ◎ | |||
| イオンミリング装置 | 日立ハイテクノロジーズ E-3500 | ◎ | |||
| イオンコーティング装置 | 日本電子 JFC-1600 | ◎ | ◎ | ||
| イオンスパッタ | 日立ハイテクノロジーズ MC1000 | ◎ | ◎ | ||
| カーボンコータ | サンユー電子 SC-701C | ◎ | ◎ | ||
| オスミウムコータ | 真空デバイス HPC-1SW | ◎ | ◎ | ||
| 超伝導核磁気共鳴吸収装置 | 日本電子 JNM-ECZ400 | ◎ | |||
| 超伝導核磁気共鳴吸収装置 | 日本電子 JNM-ECZ500 | ◎ |
◆機器の詳細情報・お問合せ先 ： 九州大学 中央分析センターHPへ