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鹿児島大学 先端科学研究推進センター 機器分析部門
◎ 利用可能 ○ 条件付利用可能
| 装 置 名 | 機 種 | 依頼分析 | 装置利用 | 仲介可能 | 備 考 |
|---|---|---|---|---|---|
| 走査型Ｘ線光電子分析装置 | 島津 AXIS-ULTRA DLD | ◎ | NW公開装置 | ||
| 電子線マイクロアナライザ | JEOL JXA-8230 | ◎ | NW公開装置 | ||
| X線分析顕微鏡 | 堀場 SGT-5000 | ◎ | NW公開装置 | ||
| 蛍光X線分析装置 | 理学 ZSX100e-AG | ◎ | NW公開装置 | ||
| 全自動元素分析装置 （CHN） | Perkin Elmer PE2400 II | ◎ | NW公開装置 | ||
| 低真空走査電子顕微鏡 | FEI Quanta 250 | ◎ | NW公開装置 | ||
| 低真空走査電子顕微鏡 | FEI XL-30 | ◎ | NW公開装置 | ||
| 低真空走査電子顕微鏡 | FEI Quanta 400 | ◎ | NW公開装置 | ||
| 超高分解能分析走査型電子顕微鏡 | 日立ハイテク SU-70 | ◎ | NW公開装置 | ||
| 超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡 | 日立ハイテク SU-8600 | ◎ | NW公開装置 | ||
| 円二色性分散計 （CD） | 日本分光 J-820Q4 | ◎ | NW公開装置 | ||
| レーザー顕微鏡 | キーエンス VK-X3000 | ◎ | NW公開装置 | ||
| 顕微FT-IR | 日本分光 IRT-3000 | ◎ | NW公開装置 | ||
| 高速Ｘ線回折装置 | X`Pert PRO MPD (PANalytical) | ◎ | NW公開装置 | ||
| 電子後方散乱回折像システム | エダックス・ジャパン ＧＥ-1 | ◎ | NW公開装置 | ||
| ビード＆フーズサンプラ | 東京科学 TK-4100 | ◎ | NW公開装置 | ||
| 顕微鏡用迅速試料作製装置 （TENSEC） | 堀場製作所 TENSEC | ◎ | NW公開装置 | ||
| 核磁気共鳴装置 400ＭＨｚ | 日本電子 JMM-ECZL400 | ◎ | NW公開装置 | ||
| 核磁気共鳴装置 600ＭＨｚ | ＪＮＭ-ＥＣＡ600 | ◎ | NW公開装置 | ||
| 透過電子顕微鏡 | JEM-3010 | ◎ | NW公開装置 | ||
| 走査型プローブ顕微鏡 | ＪＳＰＭ-5200 | ◎ | NW公開装置 | ||
| レーザーラマン顕微鏡 | RAMANbasic PS-KU | ◎ | NW公開装置 | ||
| ガスクロマトグラフ質量分析計 | アジレント 5975C | ◎ | NW公開装置 | ||
| 液体クロマトグラフ質量分析計 | AB SCIEX 3200 QTRA | ◎ | NW公開装置 | ||
| 味認識装置 | インセント TS-5000Z | ◎ | NW公開装置 | ||
| 紫外可視分光光度計 | 島津 UV-2450 | ◎ | NW公開装置 | ||
| 近赤外紫外可視分光光度計 | パーキンエルマー Lambda1050 | ◎ | NW公開装置 | ||
| 凍結乾燥機 | EYELA FDU-2200 | ◎ | NW公開装置 | ||
| 蛍光分光光度計 | 日立 F-2500 | ◎ | NW公開装置 | ||
| 旋光計 | 日本分光 P-1030 | ◎ | NW公開装置 | ||
| ゼータ電位・粒径・分子量測定システム | 大塚電子 ELSZ-2000ZS | ◎ | NW公開装置 |
◆機器の詳細情報・お問合せ先 ： 鹿児島大学 鹿児島大学 先端科学研究推進センター 機器分析部門HPへ