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九州工業大学 機器分析センター

◎ 利用可能 ○ 条件付利用可能
装 置 名 機 種 依頼分析 装置利用 仲介可能 備 考
液体クロマトグラフ飛行時間質量分析計 JEOL JMS-T100LP ◎      
核磁気共鳴装置 I 500MHz ブルカー AVANCEIII HD ◎      
透過型電子顕微鏡 JEOL JEM-F200 ◎ ○   磁性材料NG
焦束イオンビーム装置(FIB) 日立 FB-2000Ａ ◎ ○    
高精度試料水平型Ｘ線回折装置 リガク SmartLab ◎      
電子スピン共鳴装置 ESR JEOL JES-RE2X型   ○    
3次元走査型電子顕微鏡 エリオニクスERA-8800 ◎ ○    
表面分析装置  ESCA(XPS) 島津 AXIS-NOVA ○ ○   磁性材料NG
遊星ボールミル フリッチュ P5   ○    
FE-SEM + EBSP JSM7000F＋Pegasus2300(TSL) ◎ ○   EBSPは依頼不可、磁性材料NG
電界放出型走査電子顕微鏡 JEOL JSM-6701F   ○    
FE-EPMA JEOL JXA-8530F ○ ○   磁性材料NG
走査電子顕微鏡(SEM) S-3700N ○ ○    
※分析試料などは全て前処理済みであること｡分析方法の指定があること、等の条件が付きます｡
※専門委員と相談の上分析可能な場合もあります｡
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