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九州工業大学 機器分析センター

◎ 利用可能 ○ 条件付利用可能
装 置 名 機 種 依頼分析 装置利用 仲介可能 備 考
高分解能質量分析装置 JEOL JMS-SX102A ◎      
液体クロマトグラフ飛行時間質量分析計 JEOL JMS-T100LP ◎      
核磁気共鳴装置 I 500MHz ブルカー AVANCEIII HD ◎      
核磁気共鳴装置 II 400MHz ブルカー AVANCE400S型 ◎      
固体ＮＭＲ 300MHz ブルカー AVANCE300wbs       休止中
広領域固体ＮＭＲ サムウェイ PROT3000MR   ○    
透過型電子顕微鏡 JEOL JEM-F200 ◎     磁性材料NG
焦束イオンビーム装置(FIB) 日立 FB-2000Ａ ◎      
高精度試料水平型Ｘ線回折装置 リガク SmartLab ◎      
CCD搭載 単結晶自動X線構造解析装置 ブルカー SMART APEXII KY   ○    
電子スピン共鳴装置 ESR JEOL JES-RE2X型   ○    
汎用基礎物性測定装置：SQUID カンタムデザイン社 MPMS-5SE型   ○    
汎用基礎物性測定装置：SQUID カンタムデザイン社 MPMS-XL-7AC型   ○    
3次元走査型電子顕微鏡 エリオニクスERA-8800 ◎ ○    
表面分析装置  ESCA(XPS) 島津 AXIS-NOVA ◎ ○    
蛍光Ｘ線分析装置 島津 XRF1700WS ◎      
有機元素分析装置 ヤナコ MT-5 ○      
ICP発光分光分析装置 島津 ICPS-8000   ○    
遊星ボールミル フリッチュ P5   ○    
FE-SEM + EBSP JSM7000F＋Pegasus2300(TSL)       依頼不可
電界放出型走査電子顕微鏡 JEOL JSM-6701F   ○    
FE-EPMA JEOL JXA-8530F ◎      
※分析試料などは全て前処理済みであること｡分析方法の指定があること、等の条件が付きます｡
※専門委員と相談の上分析可能な場合もあります｡機器分析センター・分析相談室にご相談ください｡
◆機器の詳細情報・お問合せ先　：　九州工業大学　機器分析センターHPへ