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九州工業大学 機器分析センター

◎ 利用可能 ○ 条件付利用可能
装 置 名 機 種 依頼分析 装置利用 仲介可能 備 考
高分解能質量分析装置 JEOL JMS-SX102A      
液体クロマトグラフ飛行時間質量分析計 JEOL JMS-T100LP      
核磁気共鳴装置 I 500MHz ブルカー AVANCEIII HD      
核磁気共鳴装置 II 400MHz ブルカー AVANCE400S型      
固体NMR 300MHz ブルカー AVANCE300wbs       休止中
広領域固体NMR サムウェイ PROT3000MR      
透過型電子顕微鏡 日立 H-9000NAR      
焦束イオンビーム装置(FIB) 日立 FB-2000A      
高精度試料水平型X線回折装置 リガク SmartLab    
CCD搭載 単結晶自動X線構造解析装置 ブルカー SMART APEXII KY      
電子スピン共鳴装置 ESR JEOL JES-RE2X型      
汎用基礎物性測定装置:SQUID カンタムデザイン社 MPMS-5SE型      
汎用基礎物性測定装置:SQUID カンタムデザイン社 MPMS-XL-7AC型      
光散乱光度計 大塚電子 DLS-7000L       依頼不可
表面分析装置  ESCA(XPS) 島津 AXIS-NOVA    
蛍光X線分析装置 島津 XRF1700WS      
有機元素分析装置 ヤナコ MT-5      
ICP発光分光分析装置 島津 ICPS-8000      
遊星ボールミル フリッチュ P5      
FE-SEM + EBSP JSM6500F+Pegasus2300(TSL)       依頼不可
全自動ガス吸着量測定装置 Quantachrome Autosorb-1C/MS      
FE-EPMA JEOL JXA-8530F      
3次元走査型電子顕微鏡 + EDS エリオニクス ERA-8800      
超微小押し込み硬さ試験機 エリオニクス ENT-1100a      
X線分析顕微鏡 堀場製作所 XGT-5000    
※分析試料などは全て前処理済みであること。分析方法の指定があること、等の条件が付きます。
※専門委員と相談の上分析可能な場合もあります。機器分析センター・分析相談室にご相談ください。
◆機器の詳細情報・お問合せ先 : 九州工業大学 機器分析センターHPへ