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九州工業大学 機器分析センター

◎ 利用可能 ○ 条件付利用可能
装 置 名 機 種 依頼分析 装置利用 仲介可能 備 考
液体クロマトグラフ飛行時間質量分析計 JEOL JMS-T100LP      
核磁気共鳴装置 I 500MHz ブルカー AVANCEIII HD      
透過型電子顕微鏡 JEOL JEM-F200   磁性材料NG
焦束イオンビーム装置(FIB) 日立 FB-2000A    
高精度試料水平型X線回折装置 リガク SmartLab      
電子スピン共鳴装置 ESR JEOL JES-RE2X型      
3次元走査型電子顕微鏡 エリオニクスERA-8800    
表面分析装置  ESCA(XPS) 島津 AXIS-NOVA   磁性材料NG
遊星ボールミル フリッチュ P5      
FE-SEM + EBSP JSM7000F+Pegasus2300(TSL)   EBSPは依頼不可、磁性材料NG
電界放出型走査電子顕微鏡 JEOL JSM-6701F      
FE-EPMA JEOL JXA-8530F   磁性材料NG
走査電子顕微鏡(SEM) S-3700N    
※分析試料などは全て前処理済みであること。分析方法の指定があること、等の条件が付きます。
※専門委員と相談の上分析可能な場合もあります。
◆機器の詳細情報・お問合せ先 : 九州工業大学 機器分析センターHPへ