透過型電子顕微鏡(JEM-2100XS)
メーカー・型式
日本電子株式会社 JEM-2100XS [導入年:2004年]
詳細
透過型電子顕微鏡(Transmission Electron Microscope, TEM)による観察は、像を直視できる評価方法の中では、サンプルの微小部分のイメージを最も高倍率で、また高い分解能で観察できます。電子線照射に耐えられるような材質であれば、基本的にバルク試料でも薄膜試料でもTEM観察することができます。しかし、調べたい試料が電子線を透過できるほど薄くなっているものや細かいもの以外は、試料そのままの形態ではTEM観察はできません。観察したい部分を電子線が透過できるぐらいに薄く(薄さ100nm程度)したTEM観察用の試料を準備する必要があります。センターのTEMは5連ホルダーを装着することによって一回の挿入に5つのサンプルの観察が可能です。
(各機能がPCで一元管理された、200kV汎用型の次世代電子顕微鏡です。バイオからマテリアルまであらゆる分野での研究・開発を支援します。)
性 能(JEM-2100高分解能(HR)構成)
・分解能: 粒子像0.23nm
格子像0.14nm
・加速電圧: 80, 100, 120, 160, 200kV
・倍率: MAGモード 2,000~1,500,000
LOW MAGモード 50~6,000
SA MAGモード 8,000~800,000
(各機能がPCで一元管理された、200kV汎用型の次世代電子顕微鏡です。バイオからマテリアルまであらゆる分野での研究・開発を支援します。)
性 能(JEM-2100高分解能(HR)構成)
・分解能: 粒子像0.23nm
格子像0.14nm
・加速電圧: 80, 100, 120, 160, 200kV
・倍率: MAGモード 2,000~1,500,000
LOW MAGモード 50~6,000
SA MAGモード 8,000~800,000