卓上型触針式プロファイリングシステム(DektakXT-E)
メーカー・型式
ブルカージャパン株式会社 DektakXT-E [導入年:2022年]
詳細
薄膜の厚さ、応力、および表面の粗さと形状を計測でき、正確度、繰り返し性、再現性が極めて高く、幅広い用途に対応できる。ナノオーダーでの表面計測が可能。
触圧範囲:0.03~15mg
スキャン長:55mm
最大試料サイズ:100mm×100mm×50mm
高さ測定範囲(最大):1mm
高さ分解能:0.1nm(6.5µm測定レンジ選択時)
触圧範囲:0.03~15mg
スキャン長:55mm
最大試料サイズ:100mm×100mm×50mm
高さ測定範囲(最大):1mm
高さ分解能:0.1nm(6.5µm測定レンジ選択時)