九州大学中央分析センターでは平成19年より毎年定期的(年8回程度）に分析基礎セミナーを開催しています。これは機器分析の原理・基礎知識を習得してより効果的に分析機器を使用していただくことを目的とするものです。今年度のセミナーは、基本に立ち返り、原理をよく理解してより良いデータを取得し、正しい解釈ができることを目指します。今回は、構造解析に有用な分光分析について基礎から実用まで幅広く知識が得られる内容です。
案内ポスターはこちら。学外の方はこちらの参加申込書をご利用ください。

◆第117回 分析基礎セミナー「入門機器分析【1】 走査電子顕微鏡」◆
【日時】　2018/4/18（水）　13:00-17:00
【場所】　九州大学伊都キャンパス・工学部大講義室（総合学習プラザ2Ｆ）
【主催】　九州大学中央分析センター
【共催】　九州大学ナノテクノロジープラットフォーム
【協力】　株式会社日立ハイテクノロジーズ
【内容】
13:00-14:00　ようこそ走査電子顕微鏡の世界へ
　SEM（Scanning Electron Microscope）をはじめて使用する方へSEMとは
　どういうものかを詳しく説明し、何ができるのかを装置構成を含め解説します。
 
14:00-15:00　走査電子顕微鏡を使う前に
　SEM観察を行うにはどのような準備が必要であるかを説明し、前処理方法および
　前処理装置に関して紹介します。
 
15:15-16:05　走査電子顕微鏡ワンランク上の使い方
　SEMを使用する際に発生するトラブルに対し、解決方法や観察テクニックについて解説します。 

16:05-17:00　拡がる走査電子顕微鏡の可能性
　SEM は観察するだけでなく、各種分析装置と組み合わせると、その特性に応じた情報を
　取得できます。中央分析センターに既設のSEMの紹介と特徴、使い分けを説明します。
　併せて最新の応用技術の紹介を行い、SEMの可能性について言及します。