九州大学中央分析センターでは平成19年より毎年定期的(年8回程度）に分析基礎セミナーを開催しています。これは機器分析の原理・基礎知識を習得してより効果的に分析機器を使用していただくことを目的とするものです。今年度のセミナーは、基本に立ち返り、原理をよく理解してより良いデータを取得し、正しい解釈ができることを目指します。今回は、組成分析に有用な蛍光X線分析について基礎から実用まで幅広く知識が得られる内容です。案内ポスターはこちら。学内外を問わず、どなたでも参加できます。学外の方はこちらの参加申込書をご利用ください。

◆第110回 分析基礎セミナー「原理から学ぶ機器分析【2】 X線分析1・蛍光X線分析」◆
【日時】　2017/5/11（木）　13:00-17:00
【場所】　九州大学伊都キャンパス・工学部第4講義室（西講義棟3Ｆ）
【主催】　九州大学中央分析センター
【共催】　九州大学ナノテクノロジープラットフォーム
【協力】　株式会社島津製作所
【内容】
13:00-15:00　蛍光X線分析の基礎
　　   　蛍光X線分析の原理、装置、定性分析、定量分析（検量線法、FP法）、
　　     分析結果の評価方法、試料前処理について詳細に解説します。
 
15:10-16:00　蛍光X線分析の実際【1】　　　
　　　　蛍光X線分析でどのような試料の分析ができるのか、最近のアプリケーションを中心に
　　　　ご紹介します。

16:00-17:00　蛍光X線分析の実際【2】　
　　　 　エネルギー分散型蛍光X線分析装置を実際に使用する上で、よくある質問と
　　　　　その回答についてQ＆A形式で解説します。