九州大学中央分析センターでは平成19年より毎年定期的(年8回程度）に分析基礎セミナーを開催しています。これは機器分析の原理・基礎知識を習得してより効果的に分析機器を使用していただくことを目的とするものです。今年度のセミナーは、基本に立ち返り、原理をよく理解してより良いデータを取得し、正しい解釈ができることを目指します。今回は、構造解析に有用な分光分析について基礎から実用まで幅広く知識が得られる内容です。
案内ポスターはこちら。学外の方はこちらの参加申込書をご利用ください。

◆第126回 分析基礎セミナー「入門機器分析【10】」◆
【日時】　2018/10/25（木）　13:00-17:00
【場所】　九州大学伊都キャンパス・工学部第4講義室（西講義棟3階）
【主催】　九州大学中央分析センター
【共催】　九州大学ナノテクノロジープラットフォーム
【協力】　カールツァイス株式会社

13:00-13:50　　最新FE-SEMの基礎から材料解析アプリケーションに至るご紹介　　カールツァイス株式会社　　藤谷　洋
　　　　　　　　　　　ZEISS独自のGEMINI技術を用いた最新FE-SEMの電子光学系と信号検出原理について
　　　　　　　　　　　詳しく説明しながら、金属・高分子等の材料について観察・分析事例をご紹介します。

13:50-15:00　　走査電子顕微鏡でここまでわかる～ 信号アクセプタンス制御による情報最大化 ～　　JFEテクノリサーチ株式会社　　佐藤　馨　
　　　　　　　　　　　最新のSEMは低加速電圧での解像度向上に加え、二次電子検出器と反射電子検出器
　　　　　　　　　　　を複数搭載し多様な情報を与えてくれる。材料の組織解析情報を最大化する上で、　
　　　　　　　　　　　加速電圧と作動距離を制御した像の取得が必須である。この信号アクセプタンスの
　　　　　　　　　　　“sweet spot”を事例に基づき紹介する。

15:10-16:00　　高分解能X線顕微鏡の基礎原理と応用事例のご紹介～非破壊による試料の高精細X線透過観察について～　　カールツァイス株式会社　　速水　信弘　
　　　　　　　　　　　X線顕微鏡はこれまでのマイクロフォーカスX線CTよりも高分解能で3D情報を観察するトモ
　　　　　　　　　　　グラフィ技術です。CTの原理と注意点、X線顕微鏡技術の電池・エネルギー材料をはじめと
　　　　　　　　　　　した応用例と最新技術情報のご紹介をします。

16:00-16:50　　電子顕微鏡用EDS・EBSDをはじめとした最新材料解析ツールのご紹介　　オックスフォードインスツルメンツ株式会社　　森田　博文
　　　　　　　　　　　電子顕微鏡へ装着するEDS（エネルギー分散X線元素分析装置）、学内でもお馴染みの
　　　　　　　　　　　EBSD（電子線結晶方位解析装置）の基礎から最新の各種アプリケーションデータまでを
　　　　　　　　　　　特に「ハイスピード・解析の高効率化」をテーマに検出技術・解析事例を交えご報告します。