九州大学中央分析センターでは平成19年より毎年定期的(年8回程度）に分析基礎セミナーを開催しています。これは機器分析の原理・基礎知識を習得してより効果的に分析機器を使用していただくことを目的とするものです。今年度のセミナーは、基本に立ち返り、原理をよく理解してより良いデータを取得し、正しい解釈ができることを目指します。今回は、構造解析に有用な分光分析について基礎から実用まで幅広く知識が得られる内容です。
案内ポスターはこちら。学外の方はこちらの参加申込書をご利用ください。

◆第124回 分析基礎セミナー「入門機器分析【8】　蛍光X線分析」◆
　【日時】　2018/9/20（木）　13:00-17:00
　【場所】　九州大学伊都キャンパス・工学部第2講義室（西講義棟2階）
　【主催】　九州大学中央分析センター
　【共催】　九州大学ナノテクノロジープラットフォーム
　【協力】　株式会社島津製作所

　【内容】
　　13:00-15:00　蛍光X線分析の基礎　
　　　　　蛍光X線分析の原理、装置、定性分析、定量分析（検量線法、FP法）、分析結果の評価方法、試料前処理について説明します。
 
　　15:10-16:00　アプリケーションの紹介　～薄膜・異物解析・微量分析～
　　　　　蛍光X線分析は固体・粉末・液体・薄膜など、様々な形態の試料が分析可能です。ここでは蛍光X線分析の測定応用例について解説します。
 
　　16:00-17:00　EDXのFAQ
    　  エネルギー分散型蛍光X線分析装置を使用する上で、よくある質問とその回答についてわかりやすく解説します。