九州大学中央分析センターでは平成19年より毎年定期的(年8回程度）に分析基礎セミナーを開催しています。これは機器分析の原理・基礎知識を習得してより効果的に分析機器を使用していただくことを目的とするものです。今年度のセミナーは、基本に立ち返り、原理をよく理解してより良いデータを取得し、正しい解釈ができることを目指します。初回は、多様な分野の研究・開発に必要不可欠で、当分析センターでも利用者ニーズが高い走査電子顕微鏡です。案内ポスターはこちら。学内外を問わず、どなたでも参加できます。学外の方はこちらの参加申込書をご利用ください。
◆第109回分析基礎セミナー「原理から学ぶ機器分析【1】走査電子顕微鏡」◆ 【日時】 2017/4/19（水） 13:00-17:00 【場所】 九州大学伊都キャンパス・工学部大講義室（総合学習プラザ2Ｆ） 【主催】 九州大学中央分析センター 【共催】 九州大学ナノテクノロジープラットフォーム 【協力】 株式会社日立ハイテクノロジーズ 【内容】 13:00-14:05 原理から学ぶ走査電子顕微鏡 SEM（Scanning Electron Microscope）とは何か、また、SEMでどのような 情報が得られるのか、装置構成を含め、SEMの原理と基礎を解説します。 14:05-15:05 SEM観察のための前処理技術 SEM観察にあたってはどのような準備が必要なのか、前処理方法および前処理 装置に関して解説します。 15:20-16:00 目的別SEMの選択法 実際のSEM利用にあたり、中央分析センターに装置されている日立ハイテクノロジーズ 製SEMの特徴、使い分けを解説します。 16:00-17:00 SEMの観察テクニックと応用技術 SEMを使用する際に起こりうる障害に対し、解決方法、観察テクニックの解説をします。 併せて最新の観察応用技術の紹介を行います。