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 JSM-6340F
 2次電子像による表面形状観察ができる。フィールドエミッション型電子銃を搭載。
 二次電子像分解能:1.2nm(15kV)、2.5nm(1kV)
 試料ホルダ:12.5mmφ×10mmH、26mmφ×10mm