粒径測定システム
メーカー・型式
大塚電子製 ELSZ-0S [導入年:2011年]
詳細
動的光散乱法(光子相関)を利用し、測定角度165度(後方散乱)、0.6nm~7μmの範囲の粒径分布を測定することが出来る。光源には半導体レーザー(30mW)を、検出器には光電子倍増管を使用。測定試料の濃度は0.001~40%の範囲で可能。溶媒は水あるいは有機溶媒。試料温度は0~80℃の範囲で調節可能。そのほかに、パーソナルコンピュータ(Windows XP)、プリンタ、種々のソフトウェア(キュムラント平均粒径法、ヒストグラム法、重ね書きプロット、粒径モニタープロット等)を装備。